HAL 测试的参数化 GTest

对于 HAL 接口，可能存在多个实现。要测试 HAL 实现的每个实例，标准方法是编写值参数化 GTest。

基本测试设置

GTest 必须继承基类 testing::TestWithParam，其参数是每个实例的名称。在 SetUp 方法中，可以根据实例名称实例化服务，如下面的代码段所示。

// The main test class for the USB hidl HAL
class UsbHidlTest : public testing::TestWithParam<std::string> {

 virtual void SetUp() override {
   usb = IUsb::getService(GetParam());
   ASSERT_NE(usb, nullptr);
...
 }

对于每个测试方法，请使用宏 TEST_P，如下例所示

TEST_P(UsbHidlTest, setCallback) {
...
}

使用宏 INSTANTIATE_TEST_SUITE_P 实例化套件，如下例所示

INSTANTIATE_TEST_SUITE_P(
       PerInstance, UsbHidlTest,
       testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IUsb::descriptor)),
       android::hardware::PrintInstanceNameToString);

参数如下：

  1. InstantiationName，可以是与您的测试匹配的任何名称。PerInstance 是一个常用名称。

  2. 测试类名称。

  3. 实例名称的集合，可以从内置方法中检索，例如 getAllHalInstanceNames。

  4. 用于输出测试方法名称的方法。PrintInstanceNameToString 是一个内置名称，您可以使用它根据实例名称和测试方法名称编译测试名称。

使用多个输入进行测试

GTest 支持元组以进行值参数化测试。当 HAL 测试需要使用多个输入进行测试时（例如，具有多个接口的测试），您可以编写一个以 tuple 作为测试参数的 GTest。完整的代码可以在 VtsHalGraphicsMapperV2_1TargetTest 中找到。

与具有单个测试参数的 GTest 相比，此测试需要使用 tuple 作为测试参数，如下例所示

class GraphicsMapperHidlTest
   : public ::testing::TestWithParam<std::tuple<std::string, std::string>> {
 protected:
   void SetUp() override {
       ASSERT_NO_FATAL_FAILURE(mGralloc = std::make_unique<Gralloc>(std::get<0>(GetParam()),
                                                                    std::get<1>(GetParam())));
…
}

如果需要更复杂的参数，建议使用结构和自定义 GTest ToString 函数。

要实例化测试套件，还可以使用宏 INSTANTIATE\_TEST\_CASE\_P，但有两个区别

  • 第三个参数是元组的集合（而不是基本情况下的字符串集合）。
  • 用于编译测试名称的方法需要支持 tuple。您可以使用内置方法 PrintInstanceTupleNameToString，它可以处理字符串元组，如下例所示
INSTANTIATE_TEST_CASE_P(
       PerInstance, GraphicsMapperHidlTest,
       testing::Combine(
               testing::ValuesIn(
                       android::hardware::getAllHalInstanceNames(IAllocator::descriptor)),
           testing::ValuesIn(android::hardware::getAllHalInstanceNames(IMapper::descriptor))),
       android::hardware::PrintInstanceTupleNameToString<>);