自动执行登录失败收集

使用合集保持井井有条 根据您的偏好设置保存内容并对其进行分类。

调试测试时，始终需要一组日志来大致了解失败情况和被测设备。来源包括：Logcat、Tradefed 主机日志、屏幕截图等。

为了让任何测试编写者都能通用且轻松地获取这些日志，Tradefed 内置了一种机制来帮助收集它们。

配置

要自动收集失败时的一些日志，您可以将以下选项添加到您的 Tradefed 命令行

--auto-collect LOGCAT_ON_FAILURE
or
--auto-collect SCREENSHOT_ON_FAILURE

要查看可能值的完整列表，请查看 AutoLogCollector

为方便起见，logcat 和屏幕截图各自都有一个直接标志

--logcat-on-failure
and
--screenshot-on-failure

关于套件模块的说明 (AndroidTest.xml)

模块无法在 AndroidTest.xml 中直接指定此选项，但它们可以改为使用模块控制器。